電波暗室主要用于輻射試驗(yàn)，避免外界電磁波信號對測試信號造成干擾，同時電磁波吸波材料可以減小由于墻壁和天花板的反射對測試結(jié)果造成的多徑效應(yīng)影響等。由此可見，構(gòu)建電波暗室具有諸多優(yōu)勢。下面就著重為大家介紹一下影響電波暗室性能指標(biāo)的因素有哪些：

影響其性能指標(biāo)的因素主要包括：暗室參數(shù)、天線測量的誤差以及其他誤差等。

影響暗室性能指標(biāo)的因素是多元化的，也是很復(fù)雜的，在利用光線發(fā)射法和能量物理法則對暗室性能進(jìn)行仿真計算時，需要考慮電波的傳輸去耦，化去耦，標(biāo)準(zhǔn)天線的方向圖因素，吸收材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影響。但在實(shí)際的工程設(shè)計過程中，往往以吸收材料的性能作為暗室性能的關(guān)鍵決定因素。

1)交叉化度：由于暗室結(jié)構(gòu)的不嚴(yán)格對稱、吸收材料對各種化波吸收的不一致性以及暗室測試系統(tǒng)等因素使電波在暗室傳播過程中產(chǎn)生化不純的現(xiàn)象。如果待測試天線與發(fā)射天線的化面正交和平行時，所測試場強(qiáng)之比小于-25dB，就認(rèn)為交叉化度滿足要求。

2)多路徑損耗：路徑損耗不均勻會使電磁波的化面旋轉(zhuǎn)，如果以來波方向旋轉(zhuǎn)待測試天線，接收信號的起伏不超過+-0.25 dB，就可忽略多路徑損耗。

3)場均勻性：在暗室靜區(qū)，沿軸移動待測試天線，要求起伏不超+-2dB；在靜區(qū)的截面上，橫向和上下移動待測天線，要求接收信號起伏不超過+-0.25 dB。

還可能導(dǎo)致天線測量產(chǎn)生誤差的因素有：

低頻時與電抗近場的耦合可能比較顯著，測量天線的對準(zhǔn)誤差，其他干擾信號，測試電纜所引起的誤差等。

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